青铜古镜表面层富硅的考察

doi:10.16334/j.cnki.cn31-1652/k.1996.01.003

ISSN：1005-1538 CN：31-1652

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青铜古镜表面层富硅的考察
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                        10.16334/j.cnki.cn31-1652/k.1996.01.003
                    
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运用扫描电子显微镜、电子探针微量分析、X射线衍射、原子力显微镜和红外反射光谱等分析手段对16块古青铜镜残片的合金基体及表面层进行了分析比较，结果发现表面层内Cu含量低于基体，而Sn．O的含量则明显增高；表面层内有Si元素的富集，并且是以SiO₂非晶形态存在；对于不同种类的青铜镜，表面层深度不同，含Si量有差异，其表面光亮度和釉质感亦有区别。对古铜镜颜色的变化，SiO₂的保护作用及铜镜表面的加工工艺进行了分析探讨。

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范崇正,胡克良,吴佑实.青铜古镜表面层富硅的考察[J].文物保护与考古科学,1996,8(1):17-23.

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